探針用cut pin
主要使用于半導(dǎo)體檢測(cè)用及電路板檢測(cè)用探針(cut pin), 可根據(jù)客戶要求加工.
(1)材料
材料 電阻率 硬度 融點(diǎn) 密度
μΩ·cm Hv ℃ g/mm3
鎢 5 680 3410 19.3
錸鎢 8 850 3410 19.3
鈹銅 12 380 1066 11.8
六元合金 31 350 955 15.9
五元合金 13 300 989 8.36
銀鈀合金 18 400 1150 10.5 探針卡
銀鈀合金(H) 12 450 1050 10.5
※上記特性根據(jù)加工方法、測(cè)定方法、尺寸等會(huì)有所變化,以上僅供參考。
(2)絲徑和公差
產(chǎn)品直徑 公差
φ0.015~φ0.050mm ±0.002mm
φ0.051~φ0.100mm ±0.003mm
φ0.101~φ0.200mm ±0.004mm
φ0.201~φ1.500mm ±0.005mm
觸點(diǎn)探針端部形狀
(3)長(zhǎng)度和公差
產(chǎn)品長(zhǎng)度 標(biāo)準(zhǔn)公差 特殊公差
3~100mm ±0.2mm ±0.03mm
101~300mm ±0.5mm
301~600mm ±1.0mm
601~2000mm ±5.0m |